Metromeet debate sobre el futuro de la metrología

Organizada por el Grupo Innovalia, la Conferencia Metromeet, ha conseguido concentrar a los principales ejecutivos de empresas con mayor proyección internacional como Innovalia, Autodesk, General Electric además de las principales instituciones a nivel mundial como el PTB, la Universidad de Nottigham, la de Antwerp, el CFAA, Tekniker, AIMEN o el MSI.

Esta 16ª edición de Metromeet contaba con contenido innovador de gran interés y ha permitido descubrir y debatir sobre la importancia de la metrología en el camino hacia la Industria 4.0. La inauguración de la Conferencia ha tenido lugar en una de las principales salas del Palacio Euskalduna, donde Jesús de la Maza, presidente del Grupo Innovalia, han compartido las directrices de Metromeet y los objetivos del encuentro.

Toni Ventura, CEO de Datapixel, ha abierto la Conferencia con un tutorial carismático en el que deslumbraba el camino hacia la fabricación de Zero Defectos gracias a la Metrología y acababa su intervención con una reflexión “Hace años la Metrología solo estaba presente en los laboratorios, pero a día de hoy se trata de un proceso imprescindible en producción, es una parte más del proceso incluida dentro del mismo”

La 16ª edición de Metromeet se ha destacado también por nuevo contenido que ha generado mucho interés y expectación. Jennifer Herron, colaboradora del NIST, traía desde Colorado (Estados Unidos) una genial presentación acerca de los estándares de fabricación QIF. Ainhoa Etxabarri ha presentado el segundo día de Metromeet “Metrología en Mecanizado” una ponencia en la que además de presentar M3MH, un software único de medición que permite la conexión directa con el CNC, presentaba una nueva manera de medir, de producir y de optimizar los procesos industriales.

Después de poner sobre la mesa temas tan atractivos como la medición híbrida, QIF, soluciones de software para impresiones 3D y la Industria 4.0, la mesa redonda formada por Jesús de la Maza, Toni Ventura y Jennifer Herron, que daba cierre a la conferencia trataba temas de vital importancia en el desarrollo de la Industria como los estándares de fabricación, la interoperabilidad y la gestión de datos en la fábrica del futuro.

El último día de la conferencia tuvo lugar en Bodegas Valdemar donde los asistentes disfrutaron de un contenido innovador gracias a ponentes como Rafael García, ingeniero de aplicaciones en el MSI, participando en el proyecto del clio R4, Camilo Prieto, desde AIMEN, presentó "Integración de Metrología en grandes pilotos de lineas de fabricación aditiva de Metal".

Metromeet ha conseguido con estos días de conferencia, sacar conclusiones sobre las principales necesidades del sector y debatir acerca del futuro de la metrología con profesionales con distintas percepciones y distintas experiencias. A través de Metromeet, Innovalia continúa demostrando su apuesta por el desarrollo tecnológico y su claro posicionamiento como prescriptor de soluciones avanzadas en el campo del control de calidad y la mejora de procesos de fabricación.

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