Metromeet 2017 abre la convocatoria de ponencias para su 13ª edición

Después de que Metromeet 2016 sentará las bases de lo que será un largo e inminente recorrido hasta la metrología 4.0, las perspectivas de su 13ª edición parecen no dejar indiferente a nadie. “"Un año más, hemos conseguido aumentar la oferta expositiva y el programa de ponencias, con participantes de primer nivel, además del incremento en el número de visitantes, lo cual nos hace ser optimistas y nos anima a empezar a trabajar ya en la próxima edición”", tal y como señala Jesús de la Maza, presidente del Grupo Innovalia, organizador de la conferencia.

Bilbao fue testigo de la buena aceptación de este certamen y por ello Metromeet coge fuerzas de cara a la próxima edición e invita a todos los profesionales vinculados a la metrología industrial dimensional a compartir sus conocimientos y experiencias en la cita que tendrá lugar los días 22, 23 y 24 de marzo de 2017. La convocatoria de ponencias ya ha empezado y finalizará el próximo de 9 de septiembre .

La presentación de una ponencia ofrece una excelente oportunidad para establecer contacto directo con directores y altos ejecutivos de empresas del sector metrológico. Además de ser un evento único, permite ampliar la red de negocios y entablar relaciones con posibles clientes, desde la posición privilegiada que supone ser reconocido como un experto en un área concreta o especialidad dentro de la metrología industrial dimensional.

Tipos de ponencia y temáticas fundamentales

La conferencia ofrece tres posibilidades de cara a ser ponente: tutoriales o sesiones de dos horas en las que el conferenciante ofrecerá su punto de vista sobre tecnologías y herramientas, keynotes o charlas magistrales de 50 minutos y finalmente sesiones de 25 minutos centradas en un tema concreto sobre Metrología Industrial Dimensional, acorde a las temáticas explicadas a continuación.

Control de calidad, soluciones metrológicas para la industria, calibración y verificación, fabricación aditiva, avances en micro- y nanometrología, futuras tendencias en I+D metrológico, últimos desarrollos y soluciones en el área de la medición óptica sin contacto y los sistemas de digitalización 3D, son algunas de las temáticas a tratar en Metromeet. "Tal y como se vio durante los tres días de congreso, la participación de profesionales de todas las ramas de la industria ha contribuido a seguir haciendo del mismo un punto de encuentro entre ponentes, los sponsors y asistentes", apunta de la Maza.

Toda la información acerca de la convocatoria de ponencias se encuentra disponible en la web así como las condiciones para los ponentes y las temáticas de este año.