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La 22ª edición del congreso reunió en el Palacio Euskalduna a ponentes de ocho países para analizar el papel de la IA, los gemelos digitales y la robótica en la fabricación.
La 22ª edición de Metromeet, la Conferencia Internacional sobre Metrología Dimensional Industrial, reunió los días 1 y 2 de octubre en el Palacio Euskalduna de Bilbao a profesionales, investigadores y expertos de ocho países para analizar cómo la inteligencia artificial, los gemelos digitales y la robótica están integrando la metrología en los procesos de fabricación.
Organizado por Asociación Innovalia y patrocinado por Innovalia Metrology, el congreso combinó un workshop, dos tutoriales, un keynote, tres tracks temáticos y una mesa redonda. El Metromeet Award, entregado por Jesús de la Maza, presidente de Innovalia Group, recayó en Matthias Karl, Investigador tecnológico en ZEISS Group, quien presentó en el congreso nuevas aproximaciones para hacer más flexible y escalable la inspección visual de ensamblajes.
La primera jornada arrancó con el workshop “Precision on the Fly: Metrology-Powered Adaptive Ultrashort Laser Micromachining for Green High-Tech Production”, organizado en el marco del proyecto METAMORPHA. Expertos de Fraunhofer ILT, RWTH Aachen University, Universitat Politècnica de València, Datapixel, LASEA y ARDITEC abordaron desde el conformado del haz láser y la predicción de rugosidad superficial hasta la metrología integrada en máquina y la evaluación de la sostenibilidad de estos procesos en tres casos de uso industriales.
Tras la apertura oficial de Jesús de la Maza, Edward Morse, director del Center for Precision Metrology de UNC Charlotte, impartió el tutorial “Motion Capture as a Metrology Tool”.
Por la tarde, el track “Digital Engineering & Smart Manufacturing” reunió a Dimitris Kyritsis (profesor emérito de EPFL y asesor de la University of Oslo), que abordó la fragmentación de la información en ingeniería de sistemas; a Salomé Provost, que presentó un robot metrológico híbrido para la Industria 5.0; y a Ainhoa Etxabarri y Jon Martín, de Innovalia Metrology, que mostraron cómo los gemelos digitales permiten integrar la metrología en máquina en la fabricación adaptativa aeroespacial.
La jornada concluyó con una mesa redonda protagonizada por Toni Ventura, Thomas Engel y Edward Morse, y con la tradicional cena del congreso en la Sociedad Bilbaína.
La segunda jornada comenzó con el tutorial “Leading the Factory Floor in the Era of Industrial AI”, a cargo de Toni Ventura, CEO de Datapixel. A continuación, el track “AI, Digitalization & Intelligent Inspection” incluyó la presentación de Thomas Engel, Investigador científico en Siemens, sobre la relación entre metrología, digitalización e inteligencia artificial.
Irati Sanchez Duo de IDEKO, Edurne Jaime Barquero de Lortek y Erlantz Sola Llanos de Ikerlan, presentaron HANDIA, el proyecto que desarrolla tecnologías de inspección no destructiva basadas en IA con un enfoque centrado en las personas.
El bloque se cerró con Pablo Puerto, de IDEKO, y Eneko Gomez-Acedo, de TEKNIKER, que expusieron la aplicación de gemelos metrológicos digitales a nuevas tecnologías de medición en fabricación avanzada.
Matteo Roasio, de GEATOP, abordó la metrología aplicada al posicionamiento de componentes de gran escala, y Anderson Oliveira da Silva, de Grupo Boticário, la aplicación del análisis estocástico al diseño para fabricación de componentes poliméricos, conectando metrología, materiales y sostenibilidad.
Tras la intervención de Matthias Karl, el congreso concluyó con la entrega del Metromeet Award y el cierre de la edición.
A lo largo de las dos jornadas, Metromeet 2026 mostró cómo la metrología evoluciona desde una función ligada al control de calidad hacia un elemento integrado en el propio proceso productivo. La combinación de inteligencia artificial, gemelos digitales, robótica y medición en máquina permite anticipar problemas, adaptar los procesos en tiempo real y mejorar la eficiencia y la sostenibilidad de la producción.
